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焊(han)錫膏使用(yong)中的常見(jiàn)問題分析(xī)

上傳時間(jian):2014-2-27 8:44:26  作者:昊瑞(ruì)電子


       焊錫(xī)膏使用中(zhong)的常見問(wen)題分析

  焊(hàn)膏的回流(liú)焊接是用(yòng)在smt裝配工(gōng)藝中的主(zhǔ)要闆級互(hu)連方法,這(zhè)種焊接方(fang)法把所需(xū)要的焊接(jie)特性極好(hao)地結合在(zai)一起,這些(xie)特性包括(kuo)易于加工(gong)、對各種SMT設(she)計有廣泛(fàn)的兼容性(xing),具有高的(de)焊接可靠(kao)性以及成(chéng)本低等;然(rán)而,在回流(liú)焊接被用(yong)作爲最重(zhong)要的SMT元件(jian)級和闆級(jí)互連方法(fǎ)的時候,它(ta)也受到要(yao)求進一步(bù)改進焊接(jie)性能的挑(tiāo)戰,事實上(shàng),回流焊接(jiē)技術能否(fǒu)經受住這(zhe)一挑戰将(jiang)決定焊膏(gao)能否繼續(xu)作爲首要(yào)的SMT焊接材(cái)料,尤其是(shì)在超細微(wei)間距技術(shu)不斷取得(dé)進展的情(qing)況之下。下(xià)面我們将(jiang)探讨影響(xiang)改進回流(liu)焊接性能(néng)的幾個主(zhǔ)要問題,爲(wei)發激發工(gōng)業界研究(jiu)出解決這(zhè)一課題的(de)新方法,我(wǒ)們分别對(dui)每個問題(tí)簡要介紹(shào)。
  底面元件(jian)的固定

  雙(shuāng)面回流焊(hàn)接已采用(yòng)多年,在此(cǐ),先對第一(yī)面進行印(yin)刷布線,安(ān)裝元件和(he)軟熔,然後(hou)翻過來對(duì)電路闆的(de)另一面進(jìn)行加工處(chu)理,爲了更(gèng)加節省起(qǐ)見,某些工(gōng)藝省去了(le)對第一面(mian)的軟熔,而(er)是同時軟(ruǎn)熔頂面和(hé)底面,典型(xíng)的例子是(shi)電路闆底(di)面上僅裝(zhuāng)有小的元(yuan)件,如芯片(pian)電容器和(he)芯片電阻(zu)器,由于印(yin)刷電路闆(pan)(PCB)的設計越(yue)來越複雜(zá),裝在底面(mian)上的元件(jian)也越來越(yuè)大,結果軟(ruǎn)熔時元件(jian)脫落成爲(wèi)一個重要(yào)的問題。顯(xian)然,元件脫(tuo)落現象是(shì)由于軟熔(rong)時熔化了(le)的焊料對(dui)元件的垂(chui)直固定力(li)不足,而垂(chuí)直固定力(li)不足可歸(gui)因于元件(jian)重量增加(jiā),元件的可(ke)焊性差,焊(hàn)劑的潤濕(shī)性或焊料(liao)量不足等(deng)。其中,第一(yi)個因素是(shi)最根本的(de)原因。如果(guǒ)在對後面(mian)的三個因(yin)素加以改(gǎi)進後仍有(you)元件脫落(luo)現象存在(zài),就必須使(shǐ)用SMT粘結劑(ji)。顯然,使用(yong)粘結劑将(jiang)會使軟熔(róng)時元件自(zì)對準的效(xiào)果變差。

  未(wei)焊滿

  未焊(han)滿是在相(xiàng)鄰的引線(xian)之間形成(chéng)焊橋。通常(cháng),所有能引(yǐn)起焊膏坍(tan)落的因素(sù)都會導緻(zhì)未焊滿,這(zhe)些因素包(bao)括:

  1,升溫速(su)度太快;

  2,焊(hàn)膏的觸變(bian)性能太差(cha)或是焊膏(gao)的粘度在(zai)剪切後恢(huī)複太慢;

  3,金(jin)屬負荷或(huò)固體含量(liàng)太低;

  4,粉料(liao)粒度分布(bù)太廣;

  5;焊劑(ji)表面張力(lì)太小。但是(shi),坍落并非(fēi)必然引起(qǐ)未焊滿,在(zài)軟熔時,熔(róng)化了的未(wei)焊滿焊料(liao)在表面張(zhāng)力的推動(dong)下有斷開(kāi)的可能,焊(hàn)料流失現(xian)象将使未(wei)焊滿問題(ti)變得更加(jiā)嚴重。在此(cǐ)情況下,由(yóu)于焊料流(liu)失而聚集(ji)在某一區(qu)域的過量(liang)的焊料将(jiang)會使熔融(rong)焊料變得(dé)過多而不(bu)易斷開。

  除(chu)了引起焊(han)膏坍落的(de)因素而外(wai),下面的因(yīn)素也引起(qǐ)未滿焊的(de)常見原因(yin):

  1,相對于焊(hàn)點之間的(de)空間而言(yan),焊膏熔敷(fu)太多;

  2,加熱(re)溫度過高(gao);

  3,焊膏受熱(rè)速度比電(dian)路闆更快(kuài);

  4,焊劑潤濕(shi)速度太快(kuai);

  5,焊劑蒸氣(qì)壓太低;

  6;焊(han)劑的溶劑(ji)成分太高(gāo);

  7,焊劑樹脂(zhī)軟化點太(tài)低。

  斷續潤(rùn)濕

  焊料膜(mo)的斷續潤(run)濕是指有(you)水出現在(zai)光滑的表(biǎo)面上(1.4.5.),這是(shi)由于焊料(liao)能粘附在(zài)大多數的(de)固體金屬(shǔ)表面上,并(bìng)且在熔化(huà)了的焊料(liào)覆蓋層下(xia)隐藏着某(mou)些未被潤(rùn)濕的點,因(yīn)此,在最初(chu)用熔化的(de)焊料來覆(fù)蓋表面時(shí),會有斷續(xu)潤濕現象(xiàng)出現。亞穩(wěn)态的熔融(róng)焊料覆蓋(gài)層在最小(xiao)表面能驅(qū)動力的作(zuò)用下會發(fā)生收縮,不(bu)一會兒之(zhī)後就聚集(ji)成分離的(de)小球和脊(jǐ)狀秃起物(wu)。斷續潤濕(shī)也能由部(bu)件與熔化(huà)的焊料相(xiang)接觸時放(fàng)出的氣體(tǐ)而引起。由(yóu)于有機物(wu)的熱分解(jiě)或無機物(wu)的水合作(zuò)用而釋放(fang)的水分都(dōu)會産生氣(qi)體。水蒸氣(qì)是這些有(yǒu)關氣體的(de)最常見的(de)成份,在焊(hàn)接溫度下(xia),水蒸氣具(jù)極強的氧(yang)化作用,能(neng)夠氧化熔(róng)融焊料膜(mo)的表面或(huò)某些表面(mian)下的界面(mian)(典型的例(lì)子是在熔(róng)融焊料交(jiāo)界上的金(jīn)屬氧化物(wù)表面)。常見(jiàn)的情況是(shì)較高的焊(han)接溫度和(he)較長的停(tíng)留時間會(huì)導緻更爲(wei)嚴重的斷(duàn)續潤濕現(xiàn)象,尤其是(shì)在基體金(jin)屬之中,反(fan)應速度的(de)增加會導(dao)緻更加猛(měng)烈的氣體(tǐ)釋放。與此(ci)同時,較長(zhǎng)的停留時(shí)間也會延(yán)長氣體釋(shi)放的時間(jian)。以上兩方(fāng)面都會增(zeng)加釋放出(chu)的氣體量(liàng),消除斷續(xù)潤濕現象(xiang)的方法是(shì):

  1,降低焊接(jie)溫度;

  2,縮短(duǎn)軟熔的停(ting)留時間;

  3,采(cai)用流動的(de)惰性氣氛(fen);

  4,降低污染(ran)程度。

  低殘(can)留物

  對不(bú)用清理的(de)軟熔工藝(yi)而言,爲了(le)獲得裝飾(shì)上或功能(neng)上的效果(guǒ),常常要求(qiu)低殘留物(wù),對功能要(yao)求方面的(de)例子包括(kuo)“通過在電(dian)路中測試(shi)的焊劑殘(can)留物來探(tàn)查測試堆(duī)焊層以及(ji)在插入接(jiē)頭與堆焊(hàn)層之間或(huo)在插入接(jiē)頭與軟熔(róng)焊接點附(fù)近的通孔(kong)之間實行(háng)電接觸”,較(jiào)多的焊劑(jì)殘渣常會(hui)導緻在要(yao)實行電接(jiē)觸的金屬(shu)表層上有(yǒu)過多的殘(can)留物覆蓋(gài),這會妨礙(ai)電連接的(de)建立,在電(dian)路密度日(rì)益增加的(de)情況下,這(zhè)個問題越(yuè)發受到人(ren)們的關注(zhu)。

  顯然,不用(yong)清理的低(dī)殘留物焊(han)膏是滿足(zu)這個要求(qiú)的一個理(li)想的解決(jue)辦法。然而(ér),與此相關(guan)的軟熔必(bì)要條件卻(que)使這個問(wèn)題變得更(gèng)加複雜化(hua)了。爲了預(yù)測在不同(tong)級别的惰(duò)性軟熔氣(qi)氛中低殘(cán)留物焊膏(gao)的焊接性(xing)能,提出一(yi)個半經驗(yàn)的模型,這(zhè)個模型預(yù)示,随着氧(yang)含量的降(jiàng)低,焊接性(xing)能會迅速(sù)地改進,然(rán)後逐漸趨(qū)于平穩,實(shi)驗結果表(biǎo)明,随着氧(yǎng)濃度的降(jiang)低,焊接強(qiang)度和焊膏(gao)的潤濕能(neng)力會有所(suo)增加,此外(wài),焊接強度(dù)也随焊劑(jì)中固體含(han)量的增加(jiā)而增加。實(shi)驗數據所(suǒ)提出的模(mó)型是可比(bi)較的,并強(qiang)有力地證(zhèng)明了模型(xíng)是有效的(de),能夠用以(yi)預測焊膏(gao)與材料的(de)焊接性能(néng),因此,可以(yǐ)斷言,爲了(le)在焊接工(gōng)藝中成功(gōng)地采用不(bú)用清理的(de)低殘留物(wù)焊料,應當(dāng)使用惰性(xìng)的軟熔氣(qì)氛。 間隙  間(jian)隙是指在(zài)元件引線(xiàn)與電路闆(pǎn)焊點之間(jiān)沒有形成(chéng)焊接點。

  一(yi)般來說,這(zhe)可歸因于(yú)以下四方(fāng)面的原因(yin):

  1,焊料熔敷(fū)不足;

  2,引線(xiàn)共面性差(chà);

  3,潤濕不夠(gou);

  4,焊料損耗(hào)棗這是由(yóu)預鍍錫的(de)印刷電路(lù)闆上焊膏(gāo)坍落,引線(xian)的芯吸作(zuò)用(2.3.4)或焊點(dian)附近的通(tōng)孔引起的(de),引線共面(mian)性問題是(shi)新的重量(liang)較輕的12密(mi)耳(μm)間距的(de)四芯線扁(biǎn)平集成電(diàn)路(QFP棗Quad flat packs)的一(yi)個特别令(lìng)人關注的(de)問題,爲了(le)解決這個(ge)問題,提出(chu)了在裝配(pei)之前用焊(hàn)料來預塗(tu)覆焊點的(de)方法(9),此法(fa)是擴大局(ju)部焊點的(de)尺寸并沿(yan)着鼓起的(de)焊料預覆(fu)蓋區形成(chéng)一個可控(kong)制的局部(bù)焊接區,并(bìng)由此來抵(dǐ)償引線共(gong)面性的變(bian)化和防止(zhǐ)間隙,引線(xian)的芯吸作(zuò)用可以通(tong)過減慢加(jiā)熱速度以(yi)及讓底面(miàn)比頂面受(shou)熱更多來(lai)加以解決(jue),此外,使用(yòng)潤濕速度(dù)較慢的焊(han)劑,較高的(de)活化溫度(du)或能延緩(huǎn)熔化的焊(hàn)膏(如混有(yǒu)錫粉和鉛(qian)粉的焊膏(gāo))也能最大(dà)限度地減(jian)少芯吸作(zuò)用.在用錫(xī)鉛覆蓋層(céng)光整電路(lù)闆之前,用(yong)焊料掩膜(mó)來覆蓋連(lián)接路徑也(yě)能防止由(yóu)附近的通(tong)孔引起的(de)芯吸作用(yong)。

  焊料成球(qiu)

  焊料成球(qiu)是最常見(jiàn)的也是最(zui)棘手的問(wèn)題,這指軟(ruǎn)熔工序中(zhōng)焊料在離(li)主焊料熔(róng)池不遠的(de)地方凝固(gù)成大小不(bú)等的球粒(lì);大多數的(de)情況下,這(zhè)些球粒是(shi)由焊膏中(zhong)的焊料粉(fen)組成的,焊(han)料成球使(shi)人們耽心(xīn)會有電路(lu)短路、漏電(dian)和焊接點(dian)上焊料不(bu)足等問題(tí)發生,随着(zhe)細微間距(jù)技術和不(bu)用清理的(de)焊接方法(fǎ)的進展,人(ren)們越來越(yue)迫切地要(yào)求使用無(wú)焊料成球(qiú)現象的SMT工(gong)藝。

  引起焊(hàn)料成球(1,2,4,10)的(de)原因包括(kuò):

  1,由于電路(lù)印制工藝(yì)不當而造(zào)成的油漬(zi);

  2,焊膏過多(duō)地暴露在(zai)具有氧化(hua)作用的環(huan)境中;

  3,焊膏(gāo)過多地暴(bao)露在潮濕(shi)環境中;

  4,不(bu)适當的加(jiā)熱方法;

  5,加(jiā)熱速度太(tai)快;

  7,焊(han)料掩膜和(he)焊膏間的(de)相互作用(yong);

  8,焊劑活性(xing)不夠;

  9,焊粉(fen)氧化物或(huò)污染過多(duō);

  10,塵粒太多(duō);

  11,在特定的(de)軟熔處理(li)中,焊劑裏(lǐ)混入了不(bú)适當的揮(hui)發物;

  12,由于(yu)焊膏配方(fang)不當而引(yin)起的焊料(liào)坍落;

  13、焊膏(gao)使用前沒(méi)有充分恢(huī)複至室溫(wen)就打開包(bāo)裝使用;

  15、焊膏中(zhōng)金屬含量(liàng)偏低。

  焊料(liào)結珠

  焊接結珠(zhu)的原因包(bāo)括:

  1,印刷電(dian)路的厚度(dù)太高;

  2,焊點(diǎn)和元件重(zhong)疊太多;

  3,在(zai)元件下塗(tu)了過多的(de)錫膏;

  5,預(yu)熱時溫度(du)上升速度(dù)太快;

  7,在濕氣從(cóng)元件和阻(zǔ)焊料中釋(shi)放出來;

  8,焊(han)劑的活性(xìng)太高;

  9,所用(yòng)的粉料太(tai)細;

  10,金屬負(fu)荷太低;

  11,焊(han)膏坍落太(tai)多;

  12,焊粉氧(yǎng)化物太多(duo);

  13,溶劑蒸氣(qi)壓不足。消(xiao)除焊料結(jie)珠的最簡(jiǎn)易的方法(fa)也許是改(gai)變模版孔(kǒng)隙形狀,以(yǐ)使在低托(tuō)腳元件和(he)焊點之間(jian)夾有較少(shǎo)的焊膏。

  焊(hàn)接角焊接(jie)擡起

  焊接(jiē)角縫擡起(qǐ)指在波峰(fēng)焊接後引(yǐn)線和焊接(jie)角焊縫從(cong)具有細微(wei)電路間距(ju)的四芯線(xian)組扁平集(jí)成電路(QFP)的(de)焊點上完(wan)全擡起來(lai),特别是在(zai)元件棱角(jiao)附近的地(dì)方,一個可(ke)能的原因(yīn)是在波峰(feng)焊前抽樣(yang)檢測時加(jiā)在引線上(shang)的機械應(ying)力,或者是(shì)在處理電(diàn)路闆時所(suo)受到的機(ji)械損壞(12),在(zai)波峰焊前(qián)抽樣檢測(cè)時,用一個(ge)鑷子劃過(guò)QFP元件的引(yǐn)線,以确定(dìng)是否所有(you)的引線在(zai)軟溶烘烤(kao)時都焊上(shàng)了;其結果(guo)是産生了(le)沒有對準(zhǔn)的焊趾,這(zhè)可在從上(shàng)向下觀察(cha)看到,如果(guǒ)闆的下面(mian)加熱在焊(hàn)接區/角焊(han)縫的間界(jiè)面上引起(qǐ)了部分二(er)次軟熔,那(nà)麽,從電路(lu)闆擡起引(yin)線和角焊(hàn)縫能夠減(jiǎn)輕内在的(de)應力,防止(zhǐ)這個問題(ti)的一個辦(ban)法是在波(bo)峰焊之後(hòu)(而不是在(zài)波峰焊之(zhī)前)進行抽(chōu)樣檢查。

  豎(shù)碑(Tombstoning)

  豎碑(Tombstoning)是(shì)指無引線(xian)元件(如片(pian)式電容器(qì)或電阻)的(de)一端離開(kai)了襯底,甚(shen)至整個元(yuan)件都支在(zài)它的一端(duan)上。 Tombstoning也稱爲(wèi)Manhattan效應、Drawbridging 效應(yīng)或Stonehenge 效應,它(tā)是由軟熔(rong)元件兩端(duān)不均勻潤(rùn)濕而引起(qi)的;因此,熔(rong)融焊料的(de)不夠均衡(heng)的表面張(zhāng)力拉力就(jiù)施加在元(yuán)件的兩端(duan)上,随着SMT小(xiǎo)型化的進(jìn)展,電子元(yuán)件對這個(gè)問題也變(bian)得越來越(yuè)敏感。

  1、加(jiā)熱不均勻(yún);

  3、基闆材(cái)料導熱性(xìng)差,基闆的(de)厚度均勻(yun)性差;

  4、焊盤(pán)的熱容量(liàng)差異較大(da),焊盤的可(ke)焊性差異(yì)較大;

  6、預熱溫度(dù)太低;

  7、貼裝(zhuāng)精度差,元(yuan)件偏移嚴(yán)重。 Ball Grid Array (BGA)成球不(bu)良

  BGA成球常(chang)遇到諸如(rú)未焊滿,焊(hàn)球不對準(zhǔn),焊球漏失(shī)以及焊料(liao)量不足等(deng)缺陷,這通(tong)常是由于(yú)軟熔時對(dui)球體的固(gù)定力不足(zú)或自定心(xin)力不足而(er)引起。固定(dìng)力不足可(kě)能是由低(di)粘稠,高阻(zu)擋厚度或(huo)高放氣速(sù)度造成的(de);而自定力(lì)不足一般(ban)由焊劑活(huo)性較弱或(huò)焊料量過(guò)低而引起(qi)。

  BGA成球作用(yòng)可通過單(dān)獨使用焊(hàn)膏或者将(jiang)焊料球與(yu)焊膏以及(jí)焊料球與(yu)焊劑一起(qi)使用來實(shí)現; 正确的(de)可行方法(fǎ)是将整體(tǐ)預成形與(yǔ)焊劑或焊(hàn)膏一起使(shǐ)用。最通用(yong)的方法看(kan)來是将焊(han)料球與焊(han)膏一起使(shi)用,利用錫(xi)62或錫63球焊(hàn)的成球工(gong)藝産生了(le)極好的效(xiào)果。在使用(yòng)焊劑來進(jìn)行錫62或錫(xī)63球焊的情(qíng)況下,缺陷(xian)率随着焊(han)劑粘度,溶(róng)劑的揮發(fā)性和間距(ju)尺寸的下(xia)降而增加(jia),同時也随(suí)着焊劑的(de)熔敷厚度(dù),焊劑的活(huo)性以及焊(han)點直徑的(de)增加而增(zēng)加,在用焊(han)膏來進行(háng)高溫熔化(huà)的球焊系(xi)統中,沒有(you)觀察到有(yǒu)焊球漏失(shi)現象出現(xiàn),并且其對(dui)準精确度(dù)随焊膏熔(róng)敷厚度與(yu)溶劑揮發(fa)性,焊劑的(de)活性,焊點(dian)的尺寸與(yu)可焊性以(yi)及金屬負(fù)載的增加(jia)而增加,在(zài)使用錫63焊(han)膏時,焊膏(gao)的粘度,間(jian)距與軟熔(rong)截面對高(gao)熔化溫度(du)下的成球(qiú)率幾乎沒(méi)有影響。在(zai)要求采用(yòng)常規的印(yin)刷棗釋放(fàng)工藝的情(qíng)況下,易于(yú)釋放的焊(hàn)膏對焊膏(gāo)的單獨成(cheng)球是至關(guān)重要的。整(zhěng)體預成形(xing)的成球工(gōng)藝也是很(hěn)的發展的(de)前途的。減(jiǎn)少焊料鏈(liàn)接的厚度(du)與寬度對(duì)提高成球(qiú)的成功率(lü)也是相當(dāng)重要的。 形(xing)成孔隙

  形(xing)成孔隙通(tong)常是一個(ge)與焊接接(jie)頭的相關(guan)的問題。尤(yóu)其是應用(yong)SMT技術來軟(ruǎn)熔焊膏的(de)時候,在采(cai)用無引線(xian)陶瓷芯片(pian)的情況下(xia),絕大部分(fen)的大孔隙(xi)(>0.0005英寸/0.01毫米(mǐ))是處于LCCC焊(han)點和印刷(shua)電路闆焊(han)點之間,與(yǔ)此同時,在(zai)LCCC城堡狀物(wù)附近的角(jiǎo)焊縫中,僅(jin)有很少量(liang)的小孔隙(xi),孔隙的存(cun)在會影響(xiǎng)焊接接頭(tóu)的機械性(xing)能,并會損(sun)害接頭的(de)強度,延展(zhǎn)性和疲勞(láo)壽命,這是(shì)因爲孔隙(xì)的生長會(huì)聚結成可(ke)延伸的裂(lie)紋并導緻(zhi)疲勞,孔隙(xì)也會使焊(han)料的應力(lì)和 協變增(zeng)加,這也是(shi)引起損壞(huài)的原因。此(ci)外,焊料在(zài)凝固時會(huì)發生收縮(suō),焊接電鍍(du)通孔時的(de)分層排氣(qì)以及夾帶(dài)焊劑等也(yě)是造成孔(kǒng)隙的原因(yīn)。

  控(kòng)制孔隙形(xíng)成的方法(fa)包括:

  1,改進(jin)元件/衫底(di)的可焊性(xìng);

  2,采用具有(you)較高助焊(hàn)活性的焊(han)劑;

  3,減少焊(han)料粉狀氧(yang)化物;

  5,減緩(huan)軟熔前的(de)預熱過程(chéng).與上述情(qing)況相比,在(zai)BGA裝配中孔(kǒng)隙的形成(chéng)遵照一個(ge)略有不同(tong)的模式(14).一(yi)般說來.在(zài)采用錫63焊(hàn)料塊的BGA裝(zhuang)配中孔隙(xì)主要是在(zai)闆級裝配(pei)階段生成(cheng)的.在預鍍(dù)錫的印刷(shuā)電路闆上(shàng),BGA接頭的孔(kǒng)隙量随溶(róng)劑的揮發(fā)性,金屬成(chéng)分和軟熔(rong)溫度的升(shēng)高而增加(jiā),同時也随(sui)粉粒尺寸(cùn)的減少而(er)增加;這可(kě)由決定焊(han)劑排出速(sù)度的粘度(dù)來加以解(jiě)釋.按照這(zhe)個模型,在(zài)軟熔溫度(dù)下有較高(gāo)粘度的助(zhù)焊劑介質(zhì)會妨礙焊(hàn)劑從熔融(rong)焊料中排(pái)出。

  因此,增(zēng)加夾帶焊(hàn)劑的數量(liang)會增大放(fàng)氣的可能(neng)性,從而導(dǎo)緻在BGA裝配(pèi)中有較大(dà)的孔隙度(dù).在不考慮(lǜ)固定的金(jīn)屬化區的(de)可焊性的(de)情況下,焊(hàn)劑的活性(xing)和軟熔氣(qi)氛對孔隙(xi)生成的影(ying)響似乎可(ke)以忽略不(bu)計.大孔隙(xì)的比例會(hui)随總孔隙(xi)量的增加(jia)而增加,這(zhe)就表明,與(yǔ)總孔隙量(liang)分析結果(guǒ)所示的情(qing)況相比,在(zai)BGA中引起孔(kǒng)隙生成的(de)因素對焊(han)接接頭的(de)可靠性有(you)更大的影(ying)響,這一點(dian)與在SMT工藝(yi)中空隙生(shēng)城的情況(kuang)相似。

  總結(jie)  焊膏的回(hui)流焊接是(shì)SMT裝配工藝(yi)中的主要(yào)的闆極互(hu)連方法,影(ying)響回流焊(hàn)接的主要(yao)問題包括(kuo):底面元件(jiàn)的固定、未(wèi)焊滿、斷續(xu)潤濕、低殘(cán)留物、間隙(xì)、焊料成球(qiu)、焊料結珠(zhu)、焊接角焊(han)縫擡起、TombstoningBGA成(cheng)球不良、形(xing)成孔隙等(děng),問題還不(bú)僅限于此(cǐ),在本文中(zhōng)未提及的(de)問題還有(you)浸析作用(yong),金屬間化(huà)物,不潤濕(shi),歪扭,無鉛(qiān)焊接等.隻(zhi)有 解決了(le)這些問題(tí),回流焊接(jiē)作爲一個(gè)重要的SMT裝(zhuang)配方法,才(cái)能在超細(xì)微間距的(de)時代繼續(xu)成功地保(bǎo)留下去。

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